安立宣布2G到4G/LTE/MIMO 的OTA测试解决方案
anritsu的多制式射频测试仪集成了ets-林德格伦的emq-100天线测量软件
安立（anritsu）公司和ets-lindgren宣布ets-lindgren已选择安立mt8820c射频测试仪作为2g到4g/lte/mimo 的ota测试解决方案。作为选择的一部分， mt8820c集成了ctia-compliant ets-lindgren emquest™ emq-100天线测量软件。目前可用于移动终端（ue）开发商和制造商，它是一个准确和灵活的交钥匙解决方案，按照行业标准进行表征和验证设计。
安立（anritsu）公司的副总裁兼总经理wade hulon说：“我们很高兴扩大我们与ets- lindgren的关系。”我们已经开始继续与ets-lindgren紧密合作开发下一代用在无线领域的ota / ota的性能测试功能。我们现在能够通过mt8820c和ets - lindgren的emquest的软件集成，以支持2g，3g，和4g/lte/mimo的ota测试，我们期待在和ets-lindgren的合作中满足未来产业和生态系统的ota测试要求。”
“这对我们无线测试系统的整体产品是非常重要的，” bryan sayler，ets-lindgren测试解决方案的高级副总裁说：“作为无线测试系统制造商，我们的客户依靠我们的专业知识，并给他们提供一个世界一流的交钥匙无线测试解决方案，其中包括试验室，以及所有相关的软件和硬件。我们的目标是用同样高品质的测试仪器补充我们的产品。借助我们的内部测试能力，我们可以记录安立mt8820c的质量，以及其与我们的无线测试系统一起使用时的功能。“
mt8820c和emquest的emq-100提供了一个全面的解决方案，它可以测试各种无线通信制式的设备。专门的校准和验证方法能够支持mimo ota测试和其他分析，包括trp/tis。
mt8820c射频测试仪是一种具备无线设备校准能力的多制式2g，3g和4g/lte/mimo仪器，rf参数测试和功能测试（包括呼叫处理或非呼叫处理为基础的测试）。mt8820c目前支持lte（fdd和tdd），w-cdma/hspa 及 dc-hsdpa，cdma2k 和单载波/多载波1xev-do rel. a， gsm/（e）-gprs和td-scdma/hspa。通过安立（anritsu）的独特parallelphone模式（ppm™双端口）技术，包括sv-lte，svdo， csfb和重定向这些可以支持的技术组合，ppm应用还可以支持在一台测试仪表中， 需要两个rf同步测试的场景，包括dc-hsdpa和lte2x2 mimo。ets- lindgren的emquest emq-100提供了一个广阔范围的完整参数测量方法来测试基本的天线性能指标，同时测试辐射和各种无线设备的性能。其设计灵活，emquest emq-100可依照任何行业标准的ota辐射性能测试需求， 对单机应用天线进行分析， 或对嵌入式天线系统和无线模块进行测试。
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“这对我们无线测试系统的整体产品是非常重要的，” bryan sayler，ets-lindgren测试解决方案的高级副总裁说：“作为无线测试系统制造商，我们的客户依靠我们的专业知识，并给他们提供一个世界一流的交钥匙无线测试解决方案，其中包括试验室，以及所有相关的软件和硬件。我们的目标是用同样高品质的测试仪器补充我们的产品。借助我们的内部测试能力，我们可以记录安立mt8820c的质量，以及其与我们的无线测试系统一起使用时的功能。“
mt8820c和emquest的emq-100提供了一个全面的解决方案，它可以测试各种无线通信制式的设备。专门的校准和验证方法能够支持mimo ota测试和其他分析，包括trp/tis。
mt8820c射频测试仪是一种具备无线设备校准能力的多制式2g，3g和4g/lte/mimo仪器，rf参数测试和功能测试（包括呼叫处理或非呼叫处理为基础的测试）。mt8820c目前支持lte（fdd和tdd），w-cdma/hspa 及 dc-hsdpa，cdma2k 和单载波/多载波1xev-do rel. a， gsm/（e）-gprs和td-scdma/hspa。通过安立（anritsu）的独特parallelphone模式（ppm™双端口）技术，包括sv-lte，svdo， csfb和重定向这些可以支持的技术组合，ppm应用还可以支持在一台测试仪表中， 需要两个rf同步测试的场景，包括dc-hsdpa和lte2x2 mimo。ets- lindgren的emquest emq-100提供了一个广阔范围的完整参数测量方法来测试基本的天线性能指标，同时测试辐射和各种无线设备的性能。其设计灵活，emquest emq-100可依照任何行业标准的ota辐射性能测试需求， 对单机应用天线进行分析， 或对嵌入式天线系统和无线模块进行测试。
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