使用PLTS去嵌方法和探针校准片SLOT校准测试结果对比
使用plts去嵌方法和探针校准片slot校准测试结果对比
01.测试硬件设备
e5071c keysight---校准软件：plts
4端口20ghz网络分析仪，带tdr选件。
适合测试20ghz以内的s参数、阻抗 频域、时域、信号。
02.测试环境
03.校准片介绍
探针校准片外观
s代表短路（short），l代表负载（load）， o代表开路（open）， t代表直通（thru），校准时根据网分slot校准步骤依次将探针分别连接对应的校准模块。本次测试的dut如上图红框所示
04.测试说明
测试一：先将网分与线缆校准后，然后连接两个探针测试dut，将两个探针的s参数、两个探针+dut的整体s参数分别导出，然后使用plts校准软件将探针本身s参数去嵌，得到单独dut的s参数。
测试二：将线缆连接好两个探针，使用探针校准片进行slot校准，校准完成后再将两个探针连接dut，直接测得dut的s参数。
05.测试一
第一步：将port1和port2上连接的两个gsg探针对接校准片上的thru校准模块上，测得两个探针本身的s参数，测试结果如下图所示：导出两个探针的s参数文件2pro-s。
--测试结果--
第二步：将port1和port2上连接的两个gsg探针对接校准片上的dut上测得两个探针和dut的整体s参数，测试结果如下图所示：导出整体s参数文件2pro+dut。
测试结果
第三步：将第一步得到的s参数文件2pro-s导入plts中，用plts将2pro-s分成左右两个s2p文件用于去嵌，具体操作如下图所示，点击apply后得到两个s2p文件， 2pro-s_1和2pro-s_2，用于后续去嵌操作。
第四步：将第二步得到的s参数文件2pro+dut导入plts中，用plts将左右两个探针的s参数去嵌掉，只保留dut的测试结果，具体操作如下图所示，点击apply后得到只包含dut的s参数结果。
测试一
去嵌后测试结果
插损测试结果
回损测试结果
06.测试二
探针校准片solt校准过程
第一步：将port1和port2上连接的两个gsg探针分别对接校准片的o（open）、 s（short）、l（load）、 t（thru）进行校准，具体操作如下：
open校准
short校准
load校准
thru校准
单击done，完成校准
solt校准完成后检验校准质量
校准完成后，将两个gsg探针连接到探针校准片的thru模块上，然后查看s21及s11性能；校准频段内，其中s21性能在0.05db以内，s11性能在50db以下，表示校准质量非常高；本次校准满足s21-50db，校准质量非常不错。
测试二
使用探针校准片校准测试结果
插损测试结果
回损测试结果
07. 去嵌法和探针校准片校准两种方法得到的测试结果对比
结论：
插损：20ghz时，使用两种方式得到的dut插损测试结果基本一致，相差0.07db。
回损：dc-20ghz内，去嵌方式测得的回损最大值比校准片校准的回损最大值小0.51db，去嵌方式回损性能略优于探针校准片校准的回损性能，相差不大；但整体的测试曲线走势有较为明显的差异，分析原因是电子校准件和探针校准片的阻抗存在些许差异。
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04.测试说明
测试一：先将网分与线缆校准后，然后连接两个探针测试dut，将两个探针的s参数、两个探针+dut的整体s参数分别导出，然后使用plts校准软件将探针本身s参数去嵌，得到单独dut的s参数。
测试二：将线缆连接好两个探针，使用探针校准片进行slot校准，校准完成后再将两个探针连接dut，直接测得dut的s参数。
05.测试一
第一步：将port1和port2上连接的两个gsg探针对接校准片上的thru校准模块上，测得两个探针本身的s参数，测试结果如下图所示：导出两个探针的s参数文件2pro-s。
--测试结果--
第二步：将port1和port2上连接的两个gsg探针对接校准片上的dut上测得两个探针和dut的整体s参数，测试结果如下图所示：导出整体s参数文件2pro+dut。
测试结果
第三步：将第一步得到的s参数文件2pro-s导入plts中，用plts将2pro-s分成左右两个s2p文件用于去嵌，具体操作如下图所示，点击apply后得到两个s2p文件， 2pro-s_1和2pro-s_2，用于后续去嵌操作。
第四步：将第二步得到的s参数文件2pro+dut导入plts中，用plts将左右两个探针的s参数去嵌掉，只保留dut的测试结果，具体操作如下图所示，点击apply后得到只包含dut的s参数结果。
测试一
去嵌后测试结果
插损测试结果
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06.测试二
探针校准片solt校准过程
第一步：将port1和port2上连接的两个gsg探针分别对接校准片的o（open）、 s（short）、l（load）、 t（thru）进行校准，具体操作如下：
open校准
short校准
load校准
thru校准
单击done，完成校准
solt校准完成后检验校准质量
校准完成后，将两个gsg探针连接到探针校准片的thru模块上，然后查看s21及s11性能；校准频段内，其中s21性能在0.05db以内，s11性能在50db以下，表示校准质量非常高；本次校准满足s21-50db，校准质量非常不错。
测试二
使用探针校准片校准测试结果
插损测试结果
回损测试结果
07. 去嵌法和探针校准片校准两种方法得到的测试结果对比
结论：
插损：20ghz时，使用两种方式得到的dut插损测试结果基本一致，相差0.07db。
回损：dc-20ghz内，去嵌方式测得的回损最大值比校准片校准的回损最大值小0.51db，去嵌方式回损性能略优于探针校准片校准的回损性能，相差不大；但整体的测试曲线走势有较为明显的差异，分析原因是电子校准件和探针校准片的阻抗存在些许差异。
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