HTOL与LTOL的相关标准与失效模式详解
htol（high temperature operation life test）：高温寿命试验，需要上电，用带测试向量（pattern）的老化炉（比如:h160, incal echo, lm2100,di,mcc等）,需定做老化板bib和老化socket，至少77颗/lot，通常会多几颗，比如80颗/lot, 可以1个lot，也可以3个lot，老化时间通常为1000小时（中间会在168小时，500小时两个readpoint拿出来做功能回测）。
相关标准：
jesd22-a108b：temperature, bias, and operating life。
jesd85：methods for calculating failure rates in units of fits。
jesd47k：stress-test-driven qualification of integrated circuits。
jesd74：early life failure rate calculation procedure for semiconductor components。
失效模式:
典型浴缸曲线(bathtub curve)分成早夭期(infant mortality)、可使用期(useful life)及老化期(wear out)，对于不同区段的故障率评估，皆有相对应的试验手法。
从浴缸曲线(bathtub curve) 三个区段，其故障率的统计数据及失效原因，归纳如下：
早夭期(infant mortality )：故障率由高而快速下降- 失效原因为设计缺失/制程缺失。
可使用期(useful life)：故障率低且稳定-失效原因随机出现(如eos 故障)
老化期(wear out)：故障率会快速增加-失效原因为老化造成。
加速因子：
1.电压加速：电压高于使用电压vmax 才获得电压加速。
计算公式：
2.温度加速：htol温度高于使用温度获得温度加速。
计算公式：
总加速：
ltol：low temperature operation life test）：低温寿命试验，需要上电，基本与htol一样，只是炉温是低温，一般用来寻找热载流子引起的失效，或用来试验存储器件或亚微米尺寸的器件。
相关标准：
jesd22-a108b: temperature, bias, and operating life
jesd47k: stress-test-driven qualification of integrated circuits
大多数可靠性实验表明，环境温度越高，器件退化越严重。热载流子注入效应的情况相反，温度越低，热载流子注入效应越明显。对应于ltol来说温度越低老化加速越厉害。
ltol的测试条件，jesd47是参考tj<50℃，但一般会用ta=-40℃，低温仍然满足tj<50℃，测试结果适用范围相对较广。车规验证，operation ambient temperature range也是从ta=-40℃开始。
使用机台：di机台的一款dl602可以支持低温老化实验，ltol一般使用的pcb板跟正常htol可以兼容，使用板材和元器件一般都可以满足-40℃低温条件。
原文标题：htol与ltol的一些基本概念
文章出处：【微信公众号：上海季丰电子】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。
Avanci宣布OPPO广东移动通信有限公司已加入其无线专利许可平台
晶体管的六十年：从摇滚时代到铪
媒介融合趋势下，5G助力高清视频产业快速发展
全球人工智能产业生态系统正逐步成型
如何在Linux系统环境下进行C语言开发
HTOL与LTOL的相关标准与失效模式详解
鸿海集团“微笑曲线”转型 郭台铭用心良苦
半导体芯片学习笔记-热特性02
APS排程软件与某一知名APS软件整体对比
机械三维测量仪，机械零件3d扫描
电路详解：电源谐振半桥转换电路
示波器自动设置按钮设置了哪些？
TMC2130高性能驱动器IC概述、特点及应用领域
华为副总裁呼吁英国撤销针对华为的5G禁令
一加5最新消息：骁龙835+8G+双1600万镜头，一加5的配置很传说
格罗方德半导体拟在重庆建立300毫米晶圆厂，扩大在华业务
在为工业应用选择闪存器件时提出正确的问题
Intel推出基于雅典娜计划的Evo平台
我国智能制造产业发展面临的问题与挑战
基于区块链技术的五大误解阐述
相关标准：
jesd22-a108b：temperature, bias, and operating life。
jesd85：methods for calculating failure rates in units of fits。
jesd47k：stress-test-driven qualification of integrated circuits。
jesd74：early life failure rate calculation procedure for semiconductor components。
失效模式:
典型浴缸曲线(bathtub curve)分成早夭期(infant mortality)、可使用期(useful life)及老化期(wear out)，对于不同区段的故障率评估，皆有相对应的试验手法。
从浴缸曲线(bathtub curve) 三个区段，其故障率的统计数据及失效原因，归纳如下：
早夭期(infant mortality )：故障率由高而快速下降- 失效原因为设计缺失/制程缺失。
可使用期(useful life)：故障率低且稳定-失效原因随机出现(如eos 故障)
老化期(wear out)：故障率会快速增加-失效原因为老化造成。
加速因子：
1.电压加速：电压高于使用电压vmax 才获得电压加速。
计算公式：
2.温度加速：htol温度高于使用温度获得温度加速。
计算公式：
总加速：
ltol：low temperature operation life test）：低温寿命试验，需要上电，基本与htol一样，只是炉温是低温，一般用来寻找热载流子引起的失效，或用来试验存储器件或亚微米尺寸的器件。
相关标准：
jesd22-a108b: temperature, bias, and operating life
jesd47k: stress-test-driven qualification of integrated circuits
大多数可靠性实验表明，环境温度越高，器件退化越严重。热载流子注入效应的情况相反，温度越低，热载流子注入效应越明显。对应于ltol来说温度越低老化加速越厉害。
ltol的测试条件，jesd47是参考tj<50℃，但一般会用ta=-40℃，低温仍然满足tj<50℃，测试结果适用范围相对较广。车规验证，operation ambient temperature range也是从ta=-40℃开始。
使用机台：di机台的一款dl602可以支持低温老化实验，ltol一般使用的pcb板跟正常htol可以兼容，使用板材和元器件一般都可以满足-40℃低温条件。
原文标题：htol与ltol的一些基本概念
文章出处：【微信公众号：上海季丰电子】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。
Avanci宣布OPPO广东移动通信有限公司已加入其无线专利许可平台
晶体管的六十年：从摇滚时代到铪
媒介融合趋势下，5G助力高清视频产业快速发展
全球人工智能产业生态系统正逐步成型
如何在Linux系统环境下进行C语言开发
HTOL与LTOL的相关标准与失效模式详解
鸿海集团“微笑曲线”转型 郭台铭用心良苦
半导体芯片学习笔记-热特性02
APS排程软件与某一知名APS软件整体对比
机械三维测量仪，机械零件3d扫描
电路详解：电源谐振半桥转换电路
示波器自动设置按钮设置了哪些？
TMC2130高性能驱动器IC概述、特点及应用领域
华为副总裁呼吁英国撤销针对华为的5G禁令
一加5最新消息：骁龙835+8G+双1600万镜头，一加5的配置很传说
格罗方德半导体拟在重庆建立300毫米晶圆厂，扩大在华业务
在为工业应用选择闪存器件时提出正确的问题
Intel推出基于雅典娜计划的Evo平台
我国智能制造产业发展面临的问题与挑战
基于区块链技术的五大误解阐述