对于硬件设计人员来说,了解pdn的每个元件的谐振频率(例如,体旁路和去耦电容,平面电容和互连电感)及其对pi的影响非常重要。具有差的pi的pcb(例如,在50mhz及更高时具有高pdn阻抗)引起由pdn供电的信号的ssn和抖动。本文演示了pcb上pdn阻抗与ssn之间的关系。
分析和结果
原型如图所示图1已实施。该处理器带有外部40mhz晶体振荡器,有三个主要接口:320mbps数据或160mhz时钟速率的ddr2 sdram,80mhz时钟速率的并行闪存和通用i/o.所有这些组件都从降压转换器获取功率。在pcb上,每个电源引脚上的处理器bga正下方放置0.1μf去耦电容,如图2所示。
图1dut的方框图
图2处理器下的去耦电容放置
为了显示pdn阻抗和ssn之间的关系,在原型pcb上尝试了表i中列出的两个测试用例。在测试用例a中,卸载了一部分去耦电容(如图2中的红框所示)。另一方面,所有去耦电容都加载到测试用例b中。
表i.正在研究的去耦条件
测试用例
条件
a
一部分去耦电容器被卸载
b
所有去耦电容都加载
首先,比较10mhz至500mhz的pdn阻抗曲线(使用mentor graphics hyperlynx进行仿真)。由于vcc和地之间的去耦电容量较低,测试用例a的阻抗高于情况b.
图3pdn阻抗图
其次,两个测试案例比较了vcc的功率谱(使用频谱分析仪通过交流耦合探测),范围从10mhz到500mhz 。参考情况b(图4b),观察到的尖峰主要由40mhz晶体振荡器,160mhz ddr2和80mhz闪存接口以及相关内部处理器pll的谐波贡献。但在情况a中,由于较低的总去耦电容,vcc频谱中出现额外的尖峰(图4a中用红色框出)。
vcc上的噪声是由pdn阻抗与瞬态之间的相互作用引起的ic内所有同步切换信号的电流,即ssn。当更多的去耦电容正确放置在vcc线上时,可以抑制ssn和vcc噪声。
图4a电源测试用例a的vcc频谱
图4b测试用例的vcc功率谱b
第三,比较两个测试用例的以160mhz(3.125ns单位间隔)运行的ddr2时钟信号的眼图开度。在情况b(2.825ns)与情况a(2.698ns)的情况下,较大的眼宽表明抑制vcc噪声有助于减少处理器发送的信号中的抖动。
图5a测试用例a的ddr2时钟信号眼图
图5b测试案例b的ddr2时钟信号眼图
结论
在这个实际实验中证明了pdn阻抗对ssn和抖动的影响。至关重要的是,pcb pdn必须以严格的方式实施,以确保质量,稳健性和功能性。
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