驱动器源极引脚是如何降低开关损耗
请您介绍一下驱动器源极引脚是如何降低开关损耗的。首先，能否请您对使用了驱动器源极引脚的电路及其工作进行说明？
figure 4是具有驱动器源极引脚的mosfet的驱动电路示例。它与以往驱动电路（figure 2）之间的区别只在于驱动电路的返回线是连接到驱动器源极引脚这点。请看与您之前看到的figure 2之间的比较。
从电路图中可以一目了然地看出，包括vg在内的驱动电路中不包含lsource，因此完全不受开关工作时的id变化带来的vlsource的影响。
如果用公式来表示施加到内部芯片的电压vgs_int的话，就是公式（2）。当然，计算公式中没有3引脚封装的公式（1）中存在的lsource相关的项。所以，4引脚封装mosfet的vgs_int仅受rg_ext和ig引起的电压降vrg_ext的影响，而且由于rg_ext是外置电阻，因此也可调。下面同时列出公式（1）用以比较。
－能给我们看一下比较数据吗？
这里有双脉冲测试的比较数据。这是为了将以往产品和具有驱动器源极引脚的sic mosfet的开关工作进行比较，而在figure 5所示的电路条件下使low side（ls）的mosfet开关的双脉冲测试结果。high side（hs）是将rg_ext连接于源极引脚或驱动器源极引脚，并仅使用体二极管换流工作的电路。
figure 6是导通时的漏极-源极间电压vds和漏极电流id的波形。这是驱动条件为rg_ext＝10ω、vds＝800v，id约为50a时的波形。
红色曲线的to-247-4l为4引脚封装，蓝色的to-247n为以往的3引脚封装，其中的sic mosfet芯片是相同的。
我们先来比较一下虚线id的波形。与蓝色的3引脚封装品的波形相比，红色的4引脚封装的id上升更快，达到50a所需的时间当然也就更短。
虽然vds的下降时间本身并没有很大的差别，但栅极信号输入后的开关速度明显变快。
－就像您前面说明的，区别只在于4引脚封装通过设置驱动器源极引脚，消除了lsource的影响，因此它们的开关特性区别只在于lsource的有无所带来的影响？可不可以这样理解？
基本上是这样。当然，也有一些应该详细查考的事项，但如果从栅极驱动电路中消除了lsource的影响，则根据figure 4中说明的原理，开关速度将变快。关于关断，虽然不像导通那样区别显著，但速度同样也会变快。
－这就意味着开关损耗得到了大幅改善。
这里有导通和关断相关的开关损耗比较数据。
在导通数据中，原本2，742µj的开关损耗变为1，690µj，损耗减少了约38%。在关断数据中也从2，039µj降至1，462µj，损耗减少了约30%。
－明白了。最后请你总结一下，谢谢。
sic mosfet具有超低导通电阻和高速开关的特点，还具有可进一步缩小电路规模、提高相同尺寸的功率、以及因降低损耗而提高效率并减少发热量等诸多优点。
另一方面，关于在大功率开关电路中的功率元器件的安装，由于必须考虑寄生电感等寄生分量的影响，如果开关电流速度明显提高，那么其影响也会更大。这不仅仅是实装电路板级别的问题，同时也是元器件封装级别的课题。
此次之所以在最新一代sic mosfet中采用4引脚封装，也是基于这样的背景，旨在在使用了sic功率元器件的应用中，进一步降低损耗。
这里有一个注意事项，或者说是为了有效使用4引脚封装产品而需要探讨的事项。前面提到了通过消除封装电感lsource的影响可提高开关速度并大大改善开关损耗。这虽然是事实，但考虑到稳定性和整个电路工作时，伴随着开关速度的提高，也产生了一些需要探讨的问题。就像“权衡（trade-off）”一词所表达的，电路的优先事项一定需要用最大公约数来实现优化。
对此，将在tech web的基础知识“sic功率元器件”中进行解说。另外，您还可以通过rohm官网下载并使用本次议题的基础，即application note“利用驱动器源极引脚改善开关损耗（pdf）”。
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figure 4是具有驱动器源极引脚的mosfet的驱动电路示例。它与以往驱动电路（figure 2）之间的区别只在于驱动电路的返回线是连接到驱动器源极引脚这点。请看与您之前看到的figure 2之间的比较。
从电路图中可以一目了然地看出，包括vg在内的驱动电路中不包含lsource，因此完全不受开关工作时的id变化带来的vlsource的影响。
如果用公式来表示施加到内部芯片的电压vgs_int的话，就是公式（2）。当然，计算公式中没有3引脚封装的公式（1）中存在的lsource相关的项。所以，4引脚封装mosfet的vgs_int仅受rg_ext和ig引起的电压降vrg_ext的影响，而且由于rg_ext是外置电阻，因此也可调。下面同时列出公式（1）用以比较。
－能给我们看一下比较数据吗？
这里有双脉冲测试的比较数据。这是为了将以往产品和具有驱动器源极引脚的sic mosfet的开关工作进行比较，而在figure 5所示的电路条件下使low side（ls）的mosfet开关的双脉冲测试结果。high side（hs）是将rg_ext连接于源极引脚或驱动器源极引脚，并仅使用体二极管换流工作的电路。
figure 6是导通时的漏极-源极间电压vds和漏极电流id的波形。这是驱动条件为rg_ext＝10ω、vds＝800v，id约为50a时的波形。
红色曲线的to-247-4l为4引脚封装，蓝色的to-247n为以往的3引脚封装，其中的sic mosfet芯片是相同的。
我们先来比较一下虚线id的波形。与蓝色的3引脚封装品的波形相比，红色的4引脚封装的id上升更快，达到50a所需的时间当然也就更短。
虽然vds的下降时间本身并没有很大的差别，但栅极信号输入后的开关速度明显变快。
－就像您前面说明的，区别只在于4引脚封装通过设置驱动器源极引脚，消除了lsource的影响，因此它们的开关特性区别只在于lsource的有无所带来的影响？可不可以这样理解？
基本上是这样。当然，也有一些应该详细查考的事项，但如果从栅极驱动电路中消除了lsource的影响，则根据figure 4中说明的原理，开关速度将变快。关于关断，虽然不像导通那样区别显著，但速度同样也会变快。
－这就意味着开关损耗得到了大幅改善。
这里有导通和关断相关的开关损耗比较数据。
在导通数据中，原本2，742µj的开关损耗变为1，690µj，损耗减少了约38%。在关断数据中也从2，039µj降至1，462µj，损耗减少了约30%。
－明白了。最后请你总结一下，谢谢。
sic mosfet具有超低导通电阻和高速开关的特点，还具有可进一步缩小电路规模、提高相同尺寸的功率、以及因降低损耗而提高效率并减少发热量等诸多优点。
另一方面，关于在大功率开关电路中的功率元器件的安装，由于必须考虑寄生电感等寄生分量的影响，如果开关电流速度明显提高，那么其影响也会更大。这不仅仅是实装电路板级别的问题，同时也是元器件封装级别的课题。
此次之所以在最新一代sic mosfet中采用4引脚封装，也是基于这样的背景，旨在在使用了sic功率元器件的应用中，进一步降低损耗。
这里有一个注意事项，或者说是为了有效使用4引脚封装产品而需要探讨的事项。前面提到了通过消除封装电感lsource的影响可提高开关速度并大大改善开关损耗。这虽然是事实，但考虑到稳定性和整个电路工作时，伴随着开关速度的提高，也产生了一些需要探讨的问题。就像“权衡（trade-off）”一词所表达的，电路的优先事项一定需要用最大公约数来实现优化。
对此，将在tech web的基础知识“sic功率元器件”中进行解说。另外，您还可以通过rohm官网下载并使用本次议题的基础，即application note“利用驱动器源极引脚改善开关损耗（pdf）”。
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