inTEST 闪存 Flash/EMMC 高低温测试

上海伯东 intest - temptronic 高低温循环测试机闪存温度测试应用
闪存(flash memory),是非挥发性内存的一种,不需电力来维持数据的储存,可分为 nor flash 以及 nand flash 两种,前者用于储存程序代码,后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、dsl 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 gps、工业电子…等等。
闪存温度测试
原因为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读/写操作功能,因此在出厂前需要进行
温度测试,intest - temptronic thermostream 超高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +300 ℃,每秒可快速升温或降温 18°c,温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。
上海伯东作为 intest中国地区总代理,全权负责其新品销售和售后维修服务闪存温度测试方法:
通过与爱德万 (advantest ) 内存 ic 测试系统搭配之下,客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求,上海伯东推荐选用 intest ats-545-m 高低温循环测试机,并提供两种温度操作模式: air mode 及 dut mode闪存多采用 dut mode 即 device under test t模式来进行高低温循环测式,将闪存与 intest ats-545-m 使用 t type thermocouple 相互连接,如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存高低温
测试方法同样适合内嵌式记忆体emmc 温度测试。
intest-temptronic thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest,泰瑞达 teradyne,惠瑞捷 verigy 工程机联用,进行芯片高低温循环测试。
intest 热流仪intest thermostream 已全面取代 temptronic 和thermonics
temptronic 创立于 1970 年,在 2000 年被 intest收购,成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 thermonics 创立于1976年,在 2012 年被 intest 收购,使 intest更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 intest thermal solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机,将 temptronic tpo 系列以及 thermonics ptfs 系列整合进化成 intest thermostream ats 超高速温度环境测试系列产品。
上海伯东作为 intest中国总代理,全权负责intest新品销售和售后维修服务。
现部分品牌诚招合作代理商, 有意向者欢迎联络上海伯东 叶女士

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