闪存外形尺寸_闪存的优缺点
藤尾增冈博士（fujio masuoka）博士在1980年代为东芝工作时就以闪存的发明而著称。据报道，masuoka的同事shoji ariizumi创造了flash一词，因为擦除半导体芯片中所有数据的过程使他想起了相机的闪光灯。
闪存从可擦可编程只读存储器（eprom）和电可擦可编程只读存储器（eeprom）演变而来。从技术上讲，闪存是eeprom的一种变体，但业界保留术语eeprom表示字节级可擦写存储器，并将术语flash存储器应用于更大的块级可擦写存储器。
闪存外形尺寸
基于flash的介质基于硅基板。它们也称为固态设备，广泛用于消费类电子产品和企业数据存储系统中。
固态存储计划已确定了三种ssd外形尺寸：
与传统的机电硬盘驱动器（hdd）所使用的插槽相同的ssd。ssd具有类似于集成电路的架构。
驻留在印刷电路板上并使用标准卡外形尺寸的固态卡，例如外围组件互连express（pcie）。
使用标准hdd接口（例如串行高级技术附件（sata））安装在双列直插式内存模块（dimm）或小型双列直插式内存模块中的固态模块。
另一个子类别是混合硬盘，它将传统的hdd与nand闪存模块结合在一起。混合硬盘驱动器通常被视为弥合旋转媒体和闪存之间的鸿沟。
闪存的优缺点
闪存是半导体存储器中最便宜的形式。
与动态随机存取存储器（dram）和静态ram（sram）不同，闪存是非易失性的，功耗较低，可以大块擦除。
nor闪存可提高随机读取速度，而nand闪存可通过串行读写实现快速传输。
带有nand闪存芯片的ssd比传统的磁存储介质（如hdd和磁带）具有更高的性能。
与hdd相比，闪存驱动器还消耗更少的功率并产生更少的热量。
配备闪存驱动器的企业存储系统具有低延迟能力，以毫秒或毫秒为单位。
随着管芯的变小，闪存的主要缺点是磨损机制和单元间干扰。编程/擦除周期过多会导致位失效，从而最终破坏俘获电子的氧化层。劣化可能会使制造商设定的阈值失真，在该阈值处确定电荷为零或一。电子可能逸出并卡在氧化物绝缘层中，从而导致错误和位腐蚀。
轶事证据表明，nand闪存驱动器并没有像人们担心的那样老化。闪存驱动器制造商通过纠错码算法，损耗均衡和其他技术提高了耐用性和可靠性。
此外，ssd不会在没有警告的情况下磨损。它们通常以传感器可能指示轮胎充气不足的相同方式警告用户。
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与动态随机存取存储器（dram）和静态ram（sram）不同，闪存是非易失性的，功耗较低，可以大块擦除。
nor闪存可提高随机读取速度，而nand闪存可通过串行读写实现快速传输。
带有nand闪存芯片的ssd比传统的磁存储介质（如hdd和磁带）具有更高的性能。
与hdd相比，闪存驱动器还消耗更少的功率并产生更少的热量。
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随着管芯的变小，闪存的主要缺点是磨损机制和单元间干扰。编程/擦除周期过多会导致位失效，从而最终破坏俘获电子的氧化层。劣化可能会使制造商设定的阈值失真，在该阈值处确定电荷为零或一。电子可能逸出并卡在氧化物绝缘层中，从而导致错误和位腐蚀。
轶事证据表明，nand闪存驱动器并没有像人们担心的那样老化。闪存驱动器制造商通过纠错码算法，损耗均衡和其他技术提高了耐用性和可靠性。
此外，ssd不会在没有警告的情况下磨损。它们通常以传感器可能指示轮胎充气不足的相同方式警告用户。
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