LDMOS的性能与制造工艺
ldmos的性能概述
与双极型晶体管相比，ldmos管的增益更高，ldmos管的增益可达14db以上，而双极型晶体管在5~6db,采用ldmos管的pa模块的增益可达60db左右。这表明对于相同的输出功率需要更少的器件，从而增大功放的可靠性。
ldmos能经受住高于双极型晶体管3倍的驻波比，能在较高的反射功率下运行而没有破坏ldmos设备;它较能承受输入信号的过激励和适合发射数字信号，因为它有高级的瞬时峰值功率。ldmos增益曲线较平滑并且允许多载波数字信号放大且失真较小。ldmos管有一个低且无变化的互调电平到饱和区，不像双极型晶体管那样互调电平高且随着功率电平的增加而变化。这种主要特性允许ldmos晶体管执行高于双极型晶体管二倍的功率，且线性较好。ldmos晶体管具有较好的温度特性温度系数是负数，因此可以防止热耗散的影响。这种温度稳定性允许幅值变化只有0.1db,而在有相同的输入电平的情况下，双极型晶体管幅值变化从0.5~0.6db,且通常需要温度补偿电路。
ldmos的制造工艺
ldmos制造工艺结合了bpt和砷化镓工艺。与标准mos工艺不同的是，在器件封装上，ldmos没有采用beo氧化铍隔离层，而是直接硬接在衬底上，导热性能得到改善，提高了器件的耐高温性，大大延长了器件寿命。由于ldmos管的负温效应，其漏电流在受热时自动均流，而不会象双极型管的正温度效应在收集极电流局部形成热点，从而管子不易损坏。所以ldmos管大大加强了负载失配和过激励的承受能力。同样由于ldmos管的自动均流作用，其输入-输出特性曲线在1db 压缩点(大信号运用的饱和区段)下弯较缓，所以动态范围变宽，有利于模拟和数字电视射频信号放大。ldmos在小信号放大时近似线性，几乎没有交调失真，很大程度简化了校正电路。mos器件的直流栅极电流几乎为零，偏置电路简单，无需复杂的带正温度补偿的有源低阻抗偏置电路。
对ldmos而言，外延层的厚度、掺杂浓度、漂移区的长度是其最重要的特性参数。我们可以通过增加漂移区的长度以提高击穿电压，但是这会增加芯片面积和导通电阻。高压dmos器件耐压和导通电阻取决于外延层的浓度、厚度及漂移区长度的折中选择。因为耐压和导通阻抗对于外延层的浓度和厚度的要求是矛盾的。高的击穿电压要求厚的轻掺杂外延层和长的漂移区，而低的导通电阻则要求薄的重掺杂外延层和短的漂移区，因此必须选择最佳外延参数和漂移区长度，以便在满足一定的源漏击穿电压的前提下，得到最小的导通电阻。
ldmos的优势
卓越的效率，可降低功率消耗与冷却成本
卓越的线性度，可将信号预校正需求降到最低
优化超低热阻抗，可缩减放大器尺寸与冷却需求并改善可靠度
卓越的尖峰功率能力，可带来最少数据错误率的高 3g 数据率
高功率密度，使用较少的晶体管封装
超低感抗、回授电容与串流闸阻抗，目前可让 ldmos 晶体管在双载子器件上提供 7 bb 的增益改善
直接源极接地，提升功率增益并免除 beo 或 ain 隔离物质的需求
在 ghz 频率下拥有高功率增益，带来更少设计步骤、更简易更具成本效益的设计 (采用低成本、低功率驱动晶体管)
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ldmos的制造工艺
ldmos制造工艺结合了bpt和砷化镓工艺。与标准mos工艺不同的是，在器件封装上，ldmos没有采用beo氧化铍隔离层，而是直接硬接在衬底上，导热性能得到改善，提高了器件的耐高温性，大大延长了器件寿命。由于ldmos管的负温效应，其漏电流在受热时自动均流，而不会象双极型管的正温度效应在收集极电流局部形成热点，从而管子不易损坏。所以ldmos管大大加强了负载失配和过激励的承受能力。同样由于ldmos管的自动均流作用，其输入-输出特性曲线在1db 压缩点(大信号运用的饱和区段)下弯较缓，所以动态范围变宽，有利于模拟和数字电视射频信号放大。ldmos在小信号放大时近似线性，几乎没有交调失真，很大程度简化了校正电路。mos器件的直流栅极电流几乎为零，偏置电路简单，无需复杂的带正温度补偿的有源低阻抗偏置电路。
对ldmos而言，外延层的厚度、掺杂浓度、漂移区的长度是其最重要的特性参数。我们可以通过增加漂移区的长度以提高击穿电压，但是这会增加芯片面积和导通电阻。高压dmos器件耐压和导通电阻取决于外延层的浓度、厚度及漂移区长度的折中选择。因为耐压和导通阻抗对于外延层的浓度和厚度的要求是矛盾的。高的击穿电压要求厚的轻掺杂外延层和长的漂移区，而低的导通电阻则要求薄的重掺杂外延层和短的漂移区，因此必须选择最佳外延参数和漂移区长度，以便在满足一定的源漏击穿电压的前提下，得到最小的导通电阻。
ldmos的优势
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