LDO电性能测试方案

ldo,全称为“low dropout regulator”,是一种低压差线性稳压元器件。其工作原理为,使用在其饱和区域内运行的晶体管或场效应管(fet),从应用的输入电压中减去超额的电压,产生经过调节的输出电压。相比于传统的dc-dc变换器,ldo具有成本低,噪音低,静态电流小的特点,需要的外接元件也很少,因此,ldo广泛应用于需要稳压输出的场景。
ldo常用的电性能参数测试,主要包括输出电压、输入输出电压差、线性调整率、负载调整率、静态电流等。由于ldo的测试需要分别采集输入与输出端的数据,因此一般情况下,测试系统至少需要配置2台smu,并采用上位机软件(psssmutools)进行控制。
测试方案
vo输出电压测试
vo输出电压,是ldo在正常工作下的稳定输出电压值。当加载在ldo输入端的工作电压,在规定范围内变动时,ldo的输出电压vo稳定在特定范围内。常用测试方法为,在ldo的输入端,加载稳定变化的电压,同时测量对应的输出端电压值。一般采用二线法连接即可。(参考utc7805规格书,其规格参数5v左右)
操作步骤
步骤 操作方法 操作界面
选择测试模式 在上位机软件内,选择【晶体管】—>【mos管测量】
设置smu参数 根据实际测试需要,分别设置smu的参数。比如【起始值】,【限值】,【扫描点数】等。其中,smu 1的主要作用是,作为输入电压源,而smu 2则作为电压表
启动测试 点击运行图标“
”,即可启动测试 /
测试数据 待测试完毕后,分别点击【表格】,【图形】,可查看相应的数据与图形
voi输入输出电压差,δvo线性调整率测试
voi输入输出电压差,是ldo正常工作时输入端与输出端的最小电压差值。δvo线性调整率是输入电压变化后对输出电压造成的影响。常用测试方法为,在ldo的输入端,加载稳定变化的电压,同时测量对应的输出端电压值,并计算两端电压测差值,或者输出端的变化值。此外,为降低测试中线材的干扰,输入输出电压差测试可采用4线连接法进行测量。(参考utc7805规格书,voi值为2v左右,δvo值为4mv左右)
操作步骤
步骤 操作方法 操作界面
选择测试模式 在上位机软件内,选择【晶体管】—>【mos管测量】
设置smu参数 根据实际测试需要,分别设置smu的参数。比如【起始值】,【限值】,【扫描点数】等。其中,smu 1的主要作用是,作为输入电压源,而smu 2则作为电压表
启动测试 点击运行图标“
”,即可启动测试 /
测试数据 待测试完毕后,分别点击【表格】,【图形】,可查看相应的数据与图形
δvoload负载调整率测试
δvoload负载调整率是输出端接不同负载,输出端电压的变化。由于源表可以直接当电子负载,所以可以直接让源表做负载。常用测试方法为,保持ldo输入端电压稳定不变,在ldo的输出端,加载不同的电流值,同时测量对应的输出端电压值,并计算输出端的电压变化值。此外,为降低测试中线材的干扰,该测试可采用4线连接法进行测量。(参考utc7805规格书,δvoload值为4mv左右)
操作步骤
步骤 操作方法 操作界面
选择测试模式 在上位机软件内,选择【晶体管】—>【mos管测量】
设置smu参数 根据实际测试需要,分别设置smu的参数。比如【起始值】,【限值】,【扫描点数】等。其中,smu 1的主要作用是,作为稳定的输入源,而smu 2则作为负载,同时测量负载两端的电压。
启动测试 点击运行图标“
”,即可启动测试 /
测试数据 待测试完毕后,分别点击【表格】,【图形】,可查看相应的数据与图形。根据测试需要,设置不同的输出电流参数,进行多次测试。
iq静态电流测试测试
iq静态电流,是指输出端空载时,输入端流进的电流。常用测试方法为,断开ldo的输出端的连接,加载不同的电流值,在ldo输入端加载电压,并测量对应的输入端电流值。(参考utc7805规格书,iq值为5ma左右)
(连接示意图)
操作步骤
步骤 操作方法 操作界面
选择测试模式 在上位机软件内,选择【数据记录仪】
设置smu参数 根据实际测试需要,分别设置smu的参数。比如【起始值】,【限值】,【扫描点数】等。
启动测试 点击运行图标“
”,即可启动测试 /
测试数据 待测试完毕后,分别点击【表格】,【图形】,可查看相应的数据与图形。


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