测量射频设备噪声系数的三种方法

在现代无线通信系统中,噪声系数是评估射频接收机性能的重要参数之一。本文将深入探讨噪声系数的概念、测量方法以及不同应用场景下的适用性,以帮助读者更好地理解和应用这一关键参数。 01 噪声系数与噪声因子
在衡量射频接收机性能时,噪声系数(nf)、噪声因子(f)和等效噪声温度等参数起到关键作用。噪声系数越低,性能越佳。系统设计人员常致力于在信噪比(snr)最优的条件下优化系统。噪声系数(nf)与噪声因子(f)之间的关系简洁而明了。
以放大器为例,放大器输出信号的噪声功率相对于输入信号的噪声功率,与放大器增益有关。一般来说,输出端口的信噪比会比输入端口低,即噪声因子f要大于1,或者噪声系数nf大于0 db。当放大器噪声系数小于1 db时,可以用等效噪声温度te来描述其性能。
噪声系数与噪声温度关系
02 噪声来源
          1)热噪声(白噪声):是宇宙中一切物质的随机运动所产生的,它在任何电子设备中均存在。热噪声的产生与布朗运动相关,其噪声功率可以用数学公式表示。
其中波尔兹曼常数k、温度t和噪声带宽δf是关键参数。电子元件的热噪声会呈现出电压和电流的随机波动,统计分布接近高斯分布。
        2)散粒噪声:是由离散的电子组成的电流产生的,每个电子携带固定的电荷。电流并不是连续的,而是由单个电子到达的时间上的变化所引起的,称为散粒噪声。散粒噪声的噪声功率与电流成正比,其有效电流均值可用简洁的公式表示。
3)1/f噪声:也称为闪烁噪声,是一种随频率呈现递减趋势的噪声。它在多种系统中都能观察到,变化趋势近似于1/f。这种噪声通常出现在低频范围,随着频率增加,噪声幅度减小。
        下图显示了在290k温度下,从频率为1hz到100000ghz的电子元件噪声的功率谱密度。低频显示1/f噪声,在其功率谱密度占主导地位。非常高的频率包括量子效应。在大多数电子设备工作的频率上,噪声一般是平坦的白噪声。
4)互调失真噪声:在射频电路中,当不同频率的信号通过非线性元件(如放大器)时,它们之间可能会相互干扰,导致互调失真。这会在输出中产生新的频率成分,引入额外的噪声。         5)杂散响应噪声:当射频系统中的信号受到非线性元件(如混频器)的影响时,可能会在频谱中产生不期望的附加频率成分,导致杂散响应噪声。         此外,阻抗不连续也会引起噪声系数增加或降低,当信号在阻抗不连续处反射或散射时,会引入附加的噪声。这些附加的噪声会叠加到原始信号中,使噪声系数产生变化。
03 级联噪声系数计算
        在多级级联时,级联的增益会影响噪声系数的计算:
对于负增益的dut的噪声系数通常等于其衰减量值,即 g1=1/f1,级联的噪声系数大于级噪声系数:
级联的等效噪声温度为:
在级联网络中,系统的总噪声系数主要取决于第一级的噪声系数,因为后面的网络对系统影响逐渐减小。   04 噪声测试方法介绍
噪声系数仪法:噪声系数仪/分析仪的使用示例如下图所示。
测量过程如下: 1)噪声源(noise source)产生噪声信号,通过电源提供电压。 2)噪声信号驱动被测设备(dut)。 3)分析仪测量dut输出信号的噪声功率密度和信号功率。 4)噪声系数仪内部计算出噪声系数,同时显示系统增益。
        然而,该方法有一些局限,如频率范围限制和高噪声系数下的测量不准确性。并且这种方法需要非常昂贵的设备。
增益法:增益法在某些条件下,更方便且更准确,其基于前面给出的噪声因子定义:
在这个定义中,噪声由两种方面产生:第一种是以信号的形式传入射频系统输入的干扰,这些干扰信号与所需信号不同;第二种是由射频系统中载波的随机波动产生。如下图所示。
在室温(290δk)下,噪声功率密度为
代入噪声系数公式,可以得到:
其中,pnout是测得的总输出噪声功率,bw是目标频率带宽,gain是系统增益,nf是dut的噪声系数。我们可以直接测量输出噪声功率密度(以dbm/hz为单位),公式变为:
要使用“增益法”测量噪声系数,需要预先确定dut的增益。然后,将dut的输入端接特征阻抗线(大多数射频应用为50ω,视频/电缆应用为75ω)。然后,使用频谱分析仪测量输出噪声功率密度。         增益法的连接关系如下图所示:
假设测得增益为80db,读取输出噪声密度为-90dbm/hz,为了获得稳定准确的噪声密度读数,rbw(分辨带宽)和vbw(视频带宽)的最佳比例为rbw/vbw = 0.3。可以计算出nf为: -90dbm/hz + 174dbm/hz - 80db = 4.0db。
        “增益法”可以覆盖频谱仪可以测得的任何频率范围。最大的限制为来自频谱分析仪的噪声基底。当噪声系数很低(小于10db时),(poutd - gain)接近于-170dbm/hz。正常的lna增益约为20db,这样我们需要测量-150dbm/hz的噪声功率谱密度,这个值低于大多数频谱仪的噪声基底。当系统增益非常高,大多数频谱分析仪可以准确测量噪声系数。同样,如果dut的噪声系数非常高(例如超过30db),这种方法也可以非常准确。
  y因数法:y因数法是测量噪声系数的另一种常见方法。使用y因数法时,需要使用超噪比(enr)噪声源,其连接关系如下图所示:
enr源通常需要高dc电压供电。这些enr源能够工作在很宽的频段,并且在指定频率下具有标准噪声系数参数。对于小增益甚至负增益的dut,且噪声系数大于20db时,需要噪声源的enr远大于标准噪声源。
如上图所示,通过打开和关闭噪声源,可以使用频谱分析仪测量输出噪声功率密度的变化。计算噪声系数的公式为:
其中,enr是噪声源输出噪声系数值。y是输出噪声功率谱密度在噪声源开启和关闭时的差值。         假设通过关闭然后重新打开dc电源,噪声密度从-90dbm/hz增加到-87dbm/hz,y = 3db。enr = 5.28db。可以计算出nf为5.3db。         总结三种测试方式差异如下图所示:
05 总结          噪声在电子系统中普遍存在,尤其在射频和微波接收器中具有重要影响。了解噪声及其测量、建模和解释对系统的影响至关重要。本文介绍了测量射频设备噪声系数的三种方法,每种方法在特定应用中具有一定优势。


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