mos是金属氧化物半导体结构,氧化物是绝缘层,有绝缘层即意味着存在电容。大家知道,电容常见表达式为,即电容存储的电荷是电容与电压的乘积;是电流与时间的积分,而mos中的阈值电压受到电容的控制,因此电容决定了mos的开启速度,进而也就决定了igbt的频率响应特性。
还是以沟槽型igbt的mos结构为例,如图所示,其输入电容包含两个部分,一是栅极与源极之间的电容,二是栅极与漏极之间的电容。
我们先看,包括()与,以及金属的重叠部分,即栅极与源极之间的电容
等式右边的各项电容均可根据其几何尺寸计算得出,
其中,为真空介电常数,为氧化物的相对介电常数,为重合面积(注意,这里忽略了重叠的边缘部分电容)。的下标加一个“1”,是因为这个表达式还需要修正。
回顾一下之前对于mos能带弯曲的分析,随着栅极电压的增加(p型半导体),半导体与氧化硅界面会经历先耗尽后反型的的过程,最终形成沟道。所以中还存在一个耗尽电容,与串联。
是一个随栅极电压变化的电容。当mos栅极施加负电压时,栅氧与p型硅表面会产生积累的正电荷,相应地,在栅氧与多晶硅的界面产生负电荷积累,这是一个对充电的过程,所以可认为不存在;当mos栅极施加正电压时, p型硅表面的空穴被排斥,形成耗尽区,导带向接近费米能级的方向弯曲,耗尽区的宽度对应。在前面对mos阈值电压的“强反型”说明中,未做具体推导,但给出了强反型的结论,即将随呈指数级增长,根据电容的定义,
显然耗尽区的宽度会随栅极电压的增加而增加,直到反型层形成,耗尽区不再扩展,相应的达到最小值。所以,可以预期的变化趋势如下图所示。
注:因为电容测试必须用交流信号,而反型层的电荷分布可能受随交流信号的变化而变化,尤其是对于功率mos而言,反型层中电子很容易从发射极得到补充,所以在低频信号下难以测到,经常测到的cv曲线是图中的虚线所示。
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