安泰服务利用泰克MDO4104-6测试高速数据引起的EMI问题
电磁兼容(emc)包括电磁干扰(emi)和电磁抗扰度(ems)两部分。简而言之，emi是电子设备对外部电磁环境的干扰，ems是电子设备抵抗外部电磁环境干扰的能力。无论是emi还是ems，都包括辐射和传导两部分。emc认证是任何电子设备必须遵从的，emi是emc中的重要部分。
emi测试包括如下几类：1.emc认证机构在emc实验室进行认证测试2.企业质检部门利用emi接收机或高指标频谱仪进行emi预认证测试3.产品研发、调测部门利用频谱仪进行emi诊断4.产品研发调测部门利用示波器测试电源纹波、时钟抖动等特性，因为它们是产生emi的因素之一。
前段时间，西安航天城某公司通过朋友介绍，联系到我们，表示需要测试公司研发的某电子设备电路板，经沟通了解，我们发现该公司设备自身工作并不正常，电路板内fpga处有较强的emi 辐射，影响通信质量。
我们为该公司推荐了泰克mdo4104-6+近场探头进行emi测试。对于幅度随时间变化的频谱，mdo的优势在于调制域分析，为此我们打开mdo幅度随时间变化曲线显示功能，用mdo射频功率触发得到如下测试结果：
由于该电路板emi呈周期性变化，既然fpga的设计难以在短时间内更改，我们能否通过有效的控制手段，让有用的射频信号在突发周期间隔中底噪较低的时刻发射，而在突发幅度时刻不发射有用信息？
客户认为此方法可行。底噪呈周期性变化，必定与电路板中某种控制信号相关，虽然我们已经测试出突发底噪变化的周期，但如果我们不知道这种周期与哪种控制相关，上述设想就难以实现。由于客户对其内部控制时序相当熟悉，94us的周期刚好是该电路板高速 usb 信号传输控制周期。为了验证这一假设，我们将mdo示波器通道1接到高速usb 控制测试点，同时测试射频频谱，得到如下结果
以上测试结果充分证明了通道1中的高速usb信号与底噪突发抬升的规律相同，证明二者相关。高速usb的时序由嵌入式程序控制，因此只要在程序中控制射频在高速usb信号发出后延迟50us发射，发射持续时间小于40us即可。
最终，我们利用mdo跨域分析及调制域分析功能，成功地确认emi与高速usb信号相关，通过时序控制，跨域有效避免以前难以解决的问题，帮客户解决了重新设计fpga和产品的难题，节约了时间和经费，获得了客户好评。
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