电阻膜腐蚀导致电阻发生不良的失效分析
引 言
电阻失效发生的机理是多方面的，环境或工作条件若发生变化都有可能造成电阻的失效。其中，因外部水汽或其它腐蚀性气体等造成电阻膜腐蚀，进而导致电阻开路或阻值变大的失效情景时有发生。本文依据此，进行案例分享。
案例分享
1.贴片电阻因电阻膜腐蚀失效案例
贴片电阻(smd resistor)又名片式固定电阻器(chip fixed resistor) ，是金属玻璃釉电阻器中的一种。
以下是贴片电阻中因电阻膜腐蚀造成的不良解析过程：
阻值测试
不良品电阻阻值
良品电阻阻值
说明: 对样品电阻的阻值进行测试，其中不良品电阻阻值为∞，良品电阻阻值为0.499mω。
sem分析
说明: 对样品电阻进行sem分析，电阻本体表面有孔隙、凹坑。
开封后金相分析
说明: 对电阻脱膜后进行金相分析，电阻膜缺损。
eds分析
说明: 电阻膜进行eds检测，电阻膜损伤位置k元素含量约占1.3%。
分析结果：通过阻值测试、sem分析、脱膜后金相分析、eds检测，判断引起电阻失效的原因：
1.电阻本体表面有孔隙、凹坑；
2.电阻脱膜后，检出电阻膜有缺损；
3.电阻脱膜后eds检测电阻膜损伤位置发现k元素，k元素约占1.3%；
2.色环电阻因电阻膜腐蚀失效案例
色环电阻是在电阻封装上（即电阻表面）涂上一定颜色的色环，来代表这个电阻的阻值。色环实际上是早期为了帮助人们分辨不同阻值而设定的标准。
以下是色环电阻中因电阻膜腐蚀造成的不良解析过程：
外观检测
说明: 对样品进行外观检测，电阻电极位置有破损的现象。
阻值测试
说明: 对不良电阻进行阻值检测，测试结果均显示超规格。
开封后金相分析
说明: 对样品进行脱膜后金相显微镜检测，发现电阻膜存在缺损。
sem分析
左右滑动查看放大图示
说明: 对样品进行sem检测，发现电阻膜存在损伤。
eds分析
说明:损伤位置cr占0.54%，ni占0.8%，k元素，占0.03%
说明:未损伤位置，cr占1.47%，ni占1.58%
分析结果：
通过外观、阻值、sem、eds等检测，判断引起电阻失效的原因：
① 未发现电阻内部有明显的异常；
② 电阻膜有缺损，导致电阻值大或开路失效；
③ 电阻膜有损伤，且损伤位置发现o元素含量较高，还有部分k元素（k离子极易溶入水中，容易造成电阻膜电解）；
失效机理
电阻膜腐蚀造成电阻失效的发生机理为：外部水汽通过表面树脂保护层浸入到电阻膜层，在内部电场作用下，发生水解反应。电阻膜表面残留的k离子、na离子极易溶于水，加速了电阻膜的水解反应，致使电阻膜腐蚀失效。
基于此，为了减少这种失效情况的发生，我们建议从以下两个方面入手：
一是从工艺入手，增加三防工艺，避免水汽侵蚀；
二是从选材切入，选用高可靠性的电阻材料。
新阳检测中心有话说：
本篇文章介绍了电阻膜腐蚀造成电阻失效的案例，部分资料来源于网络，侵权删。如需转载本篇文章，后台私信获取授权即可。若未经授权转载，我们将依法维护法定权利。原创不易，感谢支持！
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1.电阻本体表面有孔隙、凹坑；
2.电阻脱膜后，检出电阻膜有缺损；
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2.色环电阻因电阻膜腐蚀失效案例
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sem分析
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说明: 对样品进行sem检测，发现电阻膜存在损伤。
eds分析
说明:损伤位置cr占0.54%，ni占0.8%，k元素，占0.03%
说明:未损伤位置，cr占1.47%，ni占1.58%
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① 未发现电阻内部有明显的异常；
② 电阻膜有缺损，导致电阻值大或开路失效；
③ 电阻膜有损伤，且损伤位置发现o元素含量较高，还有部分k元素（k离子极易溶入水中，容易造成电阻膜电解）；
失效机理
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基于此，为了减少这种失效情况的发生，我们建议从以下两个方面入手：
一是从工艺入手，增加三防工艺，避免水汽侵蚀；
二是从选材切入，选用高可靠性的电阻材料。
新阳检测中心有话说：
本篇文章介绍了电阻膜腐蚀造成电阻失效的案例，部分资料来源于网络，侵权删。如需转载本篇文章，后台私信获取授权即可。若未经授权转载，我们将依法维护法定权利。原创不易，感谢支持！
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