在高频领域,信号或电磁波必须沿着具有均匀特征阻抗的传输路径传播。当遇到了阻抗失配或不连续现象时,一部分信号将被反射回发送端,剩余部分电磁波将继续传输到接收端。信号反射和衰减的程度取决于阻抗不连续的程度。当失配阻抗幅度增加时,更大部分的信号会被反射,接收端观察到的信号衰减或劣化也就更多。
阻抗失配现象在交流耦合(又称隔直)电容的smt焊盘、板到板连接器以及电缆到板连接器(如sma)处经常会遇到。
在如图1所示的交流耦合电容smt焊盘的中,沿着具有100ω差分阻抗和5mil铜箔宽度的pcb走线传播的信号,在到达具有更宽铜箔(如0603封装的30mil宽)的smt焊盘时将遇到阻抗不连续性。这种现象可以用式(1)和式(2)解释。铜箔的横截面积或宽度的增加将增大条状电容,进而给传输通道的特征阻抗带来电容不连续性,即负的浪涌。
为了尽量减小电容的不连续性,需要裁剪掉位于smt焊盘正下方的参考平面区域,并在内层创建铜填充,分别如图2和图3所示。这样可以增加smt焊盘与其参考平面或返回路径之间的距离,从而减小电容的不连续性。同时应插入微型缝合过孔,用于在原始参考平面和内层新参考铜箔之间提供电气和物理连接,以建立正确的信号返回路径,避免emi辐射问题。
但是,距离“d ”不应增加得太大,否则将使条状电感超过条状电容并引起电感不连续性。式中:
条状电容(单位:pf);
条状电感(单位:nh);
特征阻抗(单位:ω);
ε=介电常数;
焊盘宽度;
焊盘长度;
焊盘和下方参考平面之间的距离;
焊盘的厚度。
相同概念也可以应用于板到板(b2b)和电缆到板(c2b)连接器的smt焊盘。
下面将通过tdr和插损分析完成上述概念的验证。分析是通过在empro软件中建立smt 焊盘3d 模型, 然后导入keysight ads中进行tdr和插损仿真完成的。
分析交流耦合电容的smt焊盘效应
在empro中建立一个具有中等损耗基板的smt的3d模型,其中一对微带差分走线长2英寸、宽5mil,采用单端模式,与其参考平面距离3.5mil,这对走线从30mil宽smt焊盘的一端进入,并从另一端引出。
图4和图5分别显示了仿真得到的tdr和插损图。参考平面没有裁剪的smt设计造成的阻抗失配是12ω,插损在20ghz时为-6.5db。一旦对smt焊盘下方的参考平面区域进行了裁剪(其中“d ”设为10mil),失配阻抗就可以减小到2ω,20ghz时的插损减小到-3db。进一步增加“d ”会导致条状电感超过电容,从而引起电感不连续性,转而使插损变差(即-4.5db)。
分析b2b连接器的smt焊盘效应
在empro中建立一个b2b连接器的smt焊盘的3d模型,其中连接器引脚间距是20mil,引脚宽度是6mil,焊盘连接到一对长5英寸、宽5mil,采用单端模式的微带差分走线,走线距其参考平面3.5mil。smt焊盘的厚度是40mil,包括连接器引脚和焊锡在内的这个厚度几乎是微带pcb走线厚度的40倍。
铜厚度的增加将导致电容的不连续性和更高的信号衰减。这种现象可以分别由图6和图7所示的tdr和插损仿真图中看出来。通过裁剪掉smt焊盘正下方适当间距“d ”(即7mil)的铜区域,可以限度地减小阻抗失配。
小结
本文的分析证明,裁剪掉smt焊盘正下方的参考平面区域可以减小阻抗失配,增加传输线的带宽。smt焊盘与内部参考铜箔之间的距离取决于smt焊盘的宽度以及包括连接器引脚和焊锡在内的smt焊盘有效厚度。在pcb投产之前应先进行3d建模和仿真,确保构建的传输通道具有良好的信号完整性。
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