ni于2014年推出的ni sts,基于实验室仪表级别精度的模块化仪器,同时满足测试精度和量产测试覆盖率的需求。ni sts是基于模块化仪器的pxi平台,因此,ni sts可以不断扩展以满足日益增多以及定制化的测试需求。
图1. ni 半导体测试系统内部架构
ni sts 具有统一的测试平台—— pxi 平台,可根据设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门轻松共用资料,进而降低成本。此外,pxi 平台开放式与模块化的设计,使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器资源,进一步提升半导体测试效率。
ni不断在pxi平台上提供最顶尖的仪器技术来满足半导体产业的测试任务。在这样的平台下,在实验室和产线中内部构造基本一致。在实验室中使用到的高性能的仪器在产线中依然可以使用,并加入如分选机(handler)/探针(prober)的集成、标准docking(包括soft dock/hard dock)、待测弹簧探针连接、stdf数据报表生成和系统校准等特性,可轻松集成到生产测试满足半导体产线测试的要求。
同样在实验室和量产测试使用统一开发环境labview和测试管理执行软件teststand,可最大化复用实验室中的代码,减少数据关联(correlation)时间,进一步提升半导体测试效率。
图 2. ft 测试
为了帮助半导体工程师更好的使用ni sts,小编特意为大家准备了sts 系列培训教程(有详细视频讲解哦),今天先讲从“sts test head”开始~
ni sts使用培训系列目录
① sts test head
ni sts 是一系列用于半导体特性分析和生产的硬件/软件产品。ni sts 系列由 sts t1、sts t2 和 sts t4 组成。t1、t2和 t4 的主要区别在于它们的尺寸以及它们可容纳的 18 插槽 ni pxi 机箱的数量(t1 - 一个 pxi 机箱;t2 - 两个 pxi 机箱;t4 - 四个 pxi 机箱)。本节介绍了 t1、t2 和 t4 的i/o和控件。本视频展示了 ni sts 输入和输出面板及其在测试单元内集成的功能。
② sts operator interface
本章介绍了在sts上运行测试的流程。oi(操作员界面)由多个控件和显示框组成,它们用于配置测试站、输入批次信息、执行测试以及查看良率、分bin信息和测试结果。
③ tester admins
本章提供了创建可启动 usb 驱动器的参考指南以及使用 acronis image 工具加载 sts 控制器镜像的过程。由于 oi 是客户端高度定制的操作员界面,因此我们还介绍了如何修改工厂的默认 sts 操作员界面并满足客户的特定需求。
④ handlers and probers
sts 可以soft docking 或 hard docking接到分选机和探针测试台。每种类型的 sts 都由标准通信接口和docking 接口所组成。ni 已与几乎所有在大多数工厂中发现的常见handler and prober对接过。以下视频介绍了分选机和探针测试台驱动程序的配置过程,并介绍如何在操作员界面配置模拟分选机。
⑤ tester maintenance
本章——测试机维护介绍了 ni sts 系统的常规保养维护和基本操作。ni sts 维护软件是一套软件工具,使用户能够维护、监控、检修并校准 ni 半导体测试系统。大多数测试维护操作可以使用 ni 维护软件进行。
⑥ test program development and debug
本章介绍了 sts 测试程序架构、teststand、teststand半导体模块 (tsm) 以及客户在标准 semi ate 平台期望的其它组件/功能。引脚编程、分 bin、digital pattern编辑器等相关主题也可在本节中找到。
sts test head
ni sts 是一系列用于半导体特性分析和生产的硬件/软件产品。ni sts 系列由 sts t1、sts t2 和 sts t4 组成。
图 3. sts configurations
t1、t2和 t4 的主要区别在于它们的尺寸以及它们可容纳的18 插槽 ni pxi 机箱的数量(t1- 一个 pxi 机箱;t2 - 两个 pxi 机箱;t4 - 四个 pxi 机箱)。
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