随着科技的不断发展,功率分立器件封装技术也在持续进步。为了提高功率密度和优化电源转化效率,封测企业正在为新产品研发更先进的封装工艺、封装技术及封装外形等,例如采用烧结银焊接技术等功率器件封装技术、kelvin引脚封装及toll封装外形等。 功率器件需要提供更高的效能,以满足电子产品对功率的需求,减少功率损耗和能源浪费,同时减少器件温升带来的产品失效,且需要在工作环境复杂、工作条件恶劣的情况下,具备高可靠性,以保证产品的正常运行。随着下游市场的多样化需求增长,功率分立器件封装产品也逐渐向定制化和专业化方向发展。例如,针对特定领域或特定应用场景,设计和生产符合其特定需求的封装测试产品。
本文主要对toll及to-247-4l封装外形进行简单介绍。
一、toll封装外形
toll(transistor outline leadless) 封装外形由于其具有小体积、低封装电阻、低寄生电感、低热阻、高电流等特点,已经在电动自行车、电动摩托车、锂电保护、通信电源等终端客户得到广泛使用。图1为toll封装外形及内部示意图。
采用toll封装,有如下优点:
低的封装电阻及寄生电感,带来了更小的导通阻抗、更高的峰值电流以及出色的emi表现。这可以减少大功率应用中并联mosfet的数量,并提高功率密度,与to-263-2l相比封装电阻降低75%,电流增大一倍。
与to-263-2l封装相比,toll封装的pcb占板面积减少了30%,高度减低了50%,电路板空间减少60%,更适合高功率密度应用场合。
与to-263-2l封装相比,toll 封装的source极焊料接触面积增加了4倍,从而降低了电流密度,避免了高电流和温度下导致的电迁移,从而提高了可靠性。
出色的散热性能,带来的优异的温升表现,提高了产品的可靠性。
图2 toll与to-263-2l封装对比图
二、to-247-4l封装外形
随着mosfet开关速度的加快,封装中的源级焊线产生的寄生电感,对开关速度产生不利的影响愈发严重,to-247-4l封装,能够对栅极驱动的信号源端子进行kelvin连接,从而减小封装中源极线的电感。进一步提高整个系统的效率,使器件能够在较低的温度下工作。图4为to-247-3l与to-247-4l驱动电路对比图。
图4 to-247-3l与to-247-4l驱动电路对比图
采用to-247-4l 这种kelvin连接封装,有如下优点:
有助于提高mosfet开关速度。
mosfet导通时由于源级焊线产生的寄生电感的存在,会产生反向的感应电压,该电压降低了通过栅极和源极的电压。导通后栅极电压的下降,降低了导通速度。而在to-247-4l封装中,通过mosfet的vgs电压几乎等于驱动电压。故与to-247-3l封装相比,to-247-4l封装更有助于提高mosfet开关速度。
可以降低导通损耗。
相比于to-247-3l,由于to-247-4l封装开关速度更快,开关损耗大幅度降低,器件的开关速度越快kelvin引脚带来的好处就越多。以龙腾半导体600v/21mω产品为例,eon减少了44%,eoff减少了52% 。
有助于抑制栅极振荡。
相比于to-247-3l,由于to-247-4l封装中寄生电感的减小,其栅极振荡幅度更小。
图5为龙腾半导体600v/21mω产品实测数据,图6为其开关波形对比图。
图5 to-247-3l与to-247-4l封装对比图
——to-247-3l ——to-247-4l
图6 to-247-3l与to-247-4l开关波形对比图
三、龙腾半导体toll封装产品推荐列表
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