图1是摘自日本“nikkei electronics”杂志的关于液晶tv的色解像度的发展历史的资料。据该资料,到2005年为止,所谓10位驱动器,12位驱动器的位数还不是驱动器的位数,而是指数据处理所达到的位数。到了2006年,真正的10位驱动器才正式登场。在2007年的高清电视(hdtv)的高端产品中,10位驱动器已经占领主导地位。10位以上的产品也陆续出现,比如,由横河电机公司的st6730测试的就有日本厂商的13位和12位驱动器等等。
10位驱动器为什么能那么快地普及呢?
当然这跟人们的对高画质的追求也是分不开的。主要是10位驱动器的不断改进的结果。2006年以前的10位驱动器达到的画质和8位驱动器的相比,实质上没有多大的差别。最近,随着偏光板,lcd彩色滤光片技术的发展,10位驱动器有了飞跃性的提高。其画质与8位驱动器的相比已大大不同,甚至可以说比实际的场面还要好看。
就ntsc规格来说,目前的10位驱动器的水平已经达到了63.9%。(如图2所示,白色三角形区域为ntsc规格的100%评价,目前的水平是灰色三角形区域)。一些制造商正努力通过提高驱动器的解像度来不断地提高ntsc评价,使显示面积向白色三角形区域靠近。
本文将介绍最新的10位tft源驱动器的以下4条主要测试要求和与之相对应的充实,高效的分析工具。
●高速i/f对应
●高精度灰阶测试
●lcd上升波测试
●高速演算灰阶数据
1、高速i/f对应
表1是日前主要的一些大屏源驱动器(largepanel source driver)的接口标准。由于在一定时间内要求输入数据的增多,像mini-lvds,rsds之类的接口已经无法满足其速度,随之出现了像fp-lvds,ppml这样的接口,它的时钟频率可达250mhz(data rate达500bps)。
横河电机公司生产的测试系统st6730,最高时钟频率可达375mhz(最高数据速率可达750mbps)。图3是实际驱动器的一shmoo图,电源电压3v的时候,被测驱动器的最高时钟频率竟然可达300mhz(数据速率可达600mhz)。
2、高精度灰阶测试
随着解像度的提高,驱动器的位数也不断提高。为此,灰阶的测试精度也必须跟着提高。如果8位驱动器的振幅是18v的话,平均35mv/1灰阶,而同样的10位驱动器将是9mv/1灰阶。一般来说,测试系统的测试精度是跟输入电压成反比的,输入电压越高,测试精度越低。用st6730进行测试的话,输入电压不管是0 v,10 v还是20 v,最大的pin间偏差都只有0.5mv(如图4所示)。
3、lcd上升波测试
最近屏制造商(panel maker)提出下面2项测试项目。
●lcd输出的slew rate差
●lcd输出波形差
(1) lcd输出的slewrate差
lcd输出的slew rate不一致的话,画面就会出现图5(左边)似的一道一道的竖线。lcd输出的slew rate的差值是因为驱动器各lcdpin的lcd输出能力不同而引起的,因此,我们可以通过dc测试来判断lcd输出的slew rate是否有差异。
一般情况下,dc测试的话,用dc模块,电流输出电压测试或者电压输入电流测试。但是,如果各pin的输入电流很大的话,同时可以测试的pin数就非常有限(如图6(左)所示)。因为电源的驱动能力有限,而且由于各同定电阻的存在测试精度也会受到很大的影响。这样一来,测试次数要增多,测试所需时间也大大增加。
st6730的各lcd pin上的有效负载(activeload)模块的开关可以在线控制,并且还可以与图形(pattern)同期在线控制。于是lcd输出能力的dc测试可以用下面的方法来替代:
①只对要测试的lcdpin设定有效负载(activeload)值和阈值。
②在图形(pattern)走行的同时,顺序地切换各lcdpin的有效负载(active load)开关
③当开关开通时,用各pin数字转换器(perpin digitizer)来测试各lcdpin的电压。
于是测试速度比dc模块测试要大大加快。该测试方案对于电流测试有求的器件,比如ron测试也同样适用。
(2) lcd输出波形差
lcd输出波形不一样的话,画面就会出现图5(右边)似的斑驳。lcd输出波形是否相同的测试,也就是lcdpin的ac测试。我们可以用st6730的各pin数字转换器(per pin digitizer)同时对所有lcdpin在特定的两个时间(t1,t2)进行测试,然后看是不是所有lcdpin的测试值的差(△v1,△v2,△v3…)都一样。
4、高速演算灰阶数据
从8位驱动器到10位驱动器,灰阶数据增加了4倍。另外,随着测试精度的提高,演算种类也会不断增多。为此,横河电机公司开发了名为“arrav u-nit”的高速数据处理器。图8是“array unit”的框图。它有以下的特点:
◇演算函数可以自由定义。
◇可以在120毫秒内完成10位驱动器的灰阶数据的演算。
◇10位驱动器全pin全灰阶数据的变数可以同时定义408个。
用“array unit”进行灰阶数据的演算不但演算速度加快,还可以将演算处理与其他测试同时进行(灰阶数据演算的背景(background)化),使得灰阶数据的演算时间几乎可以缩小到零,测试所需时间大大缩短(如图9所示,使用“array unit”后,测试时间只有原来的50%)。
5、与上述测试要求相对应的充实,高效的分析工具
随着上述各种测试项目的增加,将给调试和分析工作带来很多困难。这里介绍一些st6730上装备的一些便利有效的分析工具。
(1) lcd示波器(osci lloscope)
st6730的各lcdpin上装有lcd示波器(oscilloscope),它可以高速测得如图10所示的全lcdpin的波形。在10位驱动器的上升波测试或者调试中,利用该机能可以迅速知道是否有slew rate或者波形不同的lcdpin的存在。
(2) array plot
array plot是“array unit”的调试工具。象10位驱动器全pin全灰阶的变数,在array plot上可以同时描画49个。另外在调试过程中,如图11所示,在描画的波形上,用鼠标点击的话就可以显示该点的坐标(gs number,pin number)(图11_b)。还可以如图11_c所示,直接输入指定的坐标(gsnumber,pin number)进行检索或者寻找失效(fail)点。
6、总结
最后,最新的tft源驱动器(10位以上)的测试要求和横河电机公司的st6730的解决方法总结如表2。
以上通过日本横河电机公司的fpd测试系统st6730为例,介绍了最新的tft源驱动器(10位以上)的测试要求,以及对应的测试解决方案。随着驱动器的解像度的不断提高,还会不断有新的测试要求出现,相信日本横河电机公司的fpd测试系统也会不断地跟着提高,不断地创出新的实绩。
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