泰克电源全流程测试解决方案的应用分析
高效，高频，低能耗，安全，智能，微型化是电源技术发展的大趋势。新低功耗器件的广泛应用，及第三代半导体材料sic，gan技术的出现，正推动着功率电子行业发生颠覆式的变革。这些新型器件把整个电源转换系统的效率提高多个百分点。
作为电源行业值得信赖的测试专家泰克为您在电源设计各个阶段提供可靠的解决方案，使工程师坚定每一步设计，优化每个阶段设计，从而加速新产品的上市周期！
电源工程师工作流程
一个电源产品的设计工作，需要经过功率器件选择，电源原型版设计，电源质量分析，产品最终认证等四个工作流程，其中每个流程都涉及多种测试环节。一个电源产品成型之前，需要电源工程师经过多次测试与验证。
泰克电源全流程测试方案
针对电源设计的研发需求和市场反馈，泰克为行业提供全流程测试方案。从初期的器件选择到最终的产品认证多个测试环节，泰克的专业测试方案都会为电源工程师的工作保驾护航，生产优秀的电源产品。
sic/gan测试方案与emc测试方案
针对第三代半导体材料sic和gan，泰克推出了全桥测试方案。利用最新的isovu™ 技术，这项技术能够为整套测试提供一种全新的高电压隔离探测解决方案，提供了精确和可重复的结果将测试设备与示波器完全电流隔离。整个测量系统能够同时提供杰出的带宽、动态范围、共模范围和共模抑制比。
isovu 探头
泰克科技--实验室用半导体动态参数测量系统
• 动态参数典型系统配置
• 示波器mso56+igbt-town软件*1
• thdp0200*2测量上、下管vge，vce
• tpp1000*1（标配）测量下管vge，tpp0850*1测量 下管vce
• trcp300/600/3000电流探头
• afg31051*1
• 2200-20-5电源*1，提供驱动供电
• 600v/1500v/3000vdc电源*1，提供vbus供电
• 负载空芯电感（绕制）
• 器件测试箱
• sic的器件需要选择
• tivh08*1测量上管vge。
• gan的器件需要选择
• tivm1*1测量上管vge。
实验室用半导体动态参数测量系统
同时泰克的测试方案中还包括整体性能评价-emi测试。提供全功能 emc 测试系统，包括辐射骚扰、传导骚扰、emi诊断。系统快速、简便易用，方便查看故障定向的准峰值加拨和测试向导内置通用emi标准，提供高精度的预定义测试附件的增益与衰减与随机噪声比较。系统能够自动生成测试报告，输出pdf、rtf等格式报告。
emc 测试系统
以太网线缆实现与高密度配线架的简单连接
石墨烯与沥青混搭,可加快电池充电提高电池寿命
开关电源的监控模块不具备的功能是
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