硅衬底上的高度规模化 gan 互补技术
本文报道了gan互补技术(ct)在硅衬底上的扩展到
突破了电路级应用的性能极限。高度缩放的自对准(sa)p沟道finfet(鳍宽度为20 nm)实现了−300 ma/mm的id,最大值和27ω·mm的ron,创下了金属有机化学气相沉积(mocvd)生长的iii族氮化物p-fet的记录。
高密度铌酸锂光子集成电路
在这里,我们证明了类金刚石碳(dlc)是制造基于铁电体的光子集成电路的优越材料,特别是linbo3。使用dlc作为硬掩模,我们展示了深蚀刻、紧密限制、低损耗波导的制造,损耗低至4db/m。与广泛使用的脊形波导相比,这种方法受益于一个数量级以上的更高面积集成密度,同时保持高效的电光调制、低损耗,并为高效的光纤接口提供了一种途径。
碳化硅的新型光子应用
碳化硅(sic)因其独特的光子特性而在新型光子应用中迅速崛起,这得益于纳米技术的进步,如纳米制造和纳米膜转移。本文将首先介绍碳化硅的特殊光学性质。然后,讨论了一种关键结构,即绝缘体上碳化硅叠层(sicoi),它为高质量因数和低体积光学腔中的紧密光约束和强光sic相互作用奠定了坚实的基础。
稀有气体对二氧化硅薄膜acl蚀刻选择性的影响
在本研究中,我们研究了在具有低频(2mhz)偏置源的电感耦合等离子体系统中,四氟甲烷/全氟环丁烷/ar/he气体混合物中的ar/he混合比对等离子体参数、sio2蚀刻动力学和相对于非晶碳层(acl)掩模的蚀刻选择性的影响。研究发现,主要载气的类型确实通过离子通量和cfx/f比的变化来影响输出工艺特性,从而决定等离子体聚合能力。特别是,富氦等离子体在acl掩模的表面处理和sio2/acl蚀刻选择性方面表现出更好的性能。
关键词:互补、finfet、氮化镓、gan-on-si、n-fet、p通道场效应晶体管(p-fet)、缩放、自对准(sa)、晶体管、碳化硅、综合光子学、非晶碳层、电感耦合等离子体蚀刻、离子辅助蚀刻、低频偏置功率、铌酸锂、光子集成电路
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