石墨烯是一种非常薄且柔韧,具有相当强度的导电材料。然而,利用石墨烯作为组件的潜力面临着许多挑战。例如,制造基于电极的晶体管需要沉积极薄的介电薄膜。遗憾的是,这一过程导致了石墨烯电性能的下降,并在实施过程中造成缺陷。
浦项工科大学机械工程系的 jihwan an 教授、新加坡南洋理工大学机械工程系的 jeong woo shin 博士和首尔理工大学的 geonwoo park 博士组成的研究团队采用了一种称为紫外辅助原子层沉积(uv-ald) 的新方法来处理石墨烯电极。这项开创性的技术成功生产了高性能石墨烯-电介质界面。该研究内容以“high-performance graphene-dielectric interface by uv-assisted atomic layer deposition for graphene field effect transistor”为题发表在《advanced electronic materials》杂志上。
该研究首次应用紫外光辅助原子层沉积(uv-ald)技术于石墨烯表面,并展示了利用uv-ald沉积al2o3薄膜在石墨烯场效应晶体管(gfets)中的应用。在ald过程中进行5秒最佳紫外照射,导致在石墨烯表面上沉积出更加致密平滑的al2o3薄膜,形成亲密的石墨烯-介质界面,而过量的紫外照射则会阻止薄膜的成核。因此,通过uv-ald沉积高质量介质层的gfets显示出改善的性能,具有接近0 v的狄拉克电压和1221 cm2 v−1 s−1的空穴迁移率,与热ald相比提高了超过200%。该研究证明,uv-ald是实现二维材料与超薄介质膜之间高质量界面的一种有效简单选择,也证明了在低温(100℃以下)沉积高密度、高纯度原子层介电薄膜的可能性。
图文导读
图1. 本研究中使用的uv-ald的示意图a)装置和b)过程(1个周期)。
图2. 对si基底上的uv-ald al2o3膜的表征:a)基于x射线反射(xrr)的密度和粗糙度总结,b)通过uv-ald沉积的al2o3薄膜的xps光谱(uv0/5/20),c-e)c)uv0,d)uv5和e)uv20的o1s峰的高分辨率xps光谱,以及f)基于o1s峰解卷积的al2o3和(al2o3 + alooh)峰之间面积强度比的总结。
图3. uv-ald al2o3薄膜在石墨烯上的原子力显微镜(afm)图像:a)uv0,b)uv5,c)uv20,d)uv50,以及e)线性剖面的比较。f)来自afm分析的晶粒尺寸和面积覆盖率总结。g)uv-ald al2o3薄膜在石墨烯上的xps光谱,以及h)gi-xrd光谱。
图4. a)紫外光辅助原子层沉积(uv-ald)al2o3薄膜的拉曼光谱,以及b)带有uv-ald(uv0/5/20/50)al2o3层的石墨烯的g峰峰值位置和半峰宽。c)uv0,d)uv5,e)uv20和f)uv50的高分辨率光谱。
图5. a)al2o3 / au / 石墨烯gfets结构的器件示意图。b)带有uv0/5/20/50 ald al2o3介电层的gfets的传输特性。c、d)根据uv照射时间总结的gfets的达克电压(vdirac)和空穴迁移率(µh)(灰色线表示ald之前裸露石墨烯的性质)。
结论
研究人员首次成功地将紫外光辅助原子层沉积(uv-ald)技术应用于石墨烯基底,并展示了通过uv-ald沉积的al2o3介电薄膜提升的gfets性能。在ald过程中,最佳的uv照射,即每个循环5秒(uv5),通过重建亲密的石墨烯-介质界面上的成核位点,诱导了均匀薄膜的生长;它还在低温(<100°c)下为配体交换提供了不足的热能,导致了高质量的al2o3薄膜沉积,即更加致密、平滑和纯净。相反,过量的uv照射(uv20/50)可能会导致非均匀薄膜沉积,可能是由于在ald半周期中是反应位点的石墨烯上的-oh或tma的脱键。因此,具有优质uv-ald介电层的gfets在最佳uv照射下表现出改进的性能,vdriac接近0v,µh为1221 cm2 v−1 s−1,与具有热ald介电层的gfet相比,提高了约3倍。该研究展示的成功将低温uv-ald应用于具有高质量介电-石墨烯界面的gfets,可能在实现高性能的石墨烯或其他二维材料(例如mos2、h-bn)基柔性电子器件方面具有重要意义。
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